檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "Hung-Fei Kuo".eadvisor (精準) and ckeyword.raw="對位量測"
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在線路圖案的定義過程,無論是使用什麼型態的曝光系統,對準量測技術皆為關鍵的製程步驟,在曝光之前能夠準確的將載台進行可以有效減少製程的重工率,進而降低製程成本。本實驗室在先前的研究過程中,發現使用數位…
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三維先進封裝可以透過層層堆疊擴展每個3D芯片的功能,遠遠超出傳統縮放的能力,然而進一步的尺寸小型化為半導體行業帶來了巨大的挑戰,其中在晶圓鍵合過程中對準量測技術為關鍵的製程步驟,在鍵合前能夠準確將晶…